本文主要介绍热处理晶粒度检测中，截点法的操作方法，介绍金相分析软件中部分晶粒度测量的方式。

1、截点法的分类及应用中的注意事项

（1）直线截点法注意事项

一条或数条直线，适当的测量网格长度和放大倍数，保证至少能截获50个截点。

截点的计算。

选择3-5个视场进行测量。

非等轴晶粒的测量。

（2）单圆截点法注意事项

适用于试样不同位置晶粒度有明显差别的材料。

使用的测量网格圆可以为任一周长，通常使用100mm， 200mm，250mm。

选择适当的放大倍数，以保证每个圆周产生35个左右截点。

所需的几个圆周任意分布在尽可能大的检验面上，视场数增加直至获得计算精度。

（3）三圆截点法注意事项

试验表明，每个试样截点计数达500时，常获得可靠的精确度。

测量网格由3个同心等距，总周长为500mm的圆组成。将网格用于测量任意选择的无个视场上，分别记录每次的截点数。

选择适当的放大倍数，使三个圆的试样网格在每个视场上产生50-100个截点计数，使通过选择的5个视场可获得400-500个总截点数。

测量网格通过三个晶粒汇合点时，截点计数为2个。

2、非等轴晶试样晶粒度的测定

（1）对于矩形的棒材或板材晶粒应在其纵向、横向、及法相截面上进行测定，圆棒材应在纵向和横向上测定。如果等轴偏差不大（3:1形状比），可在纵向试样上使用圆形测量网格进行分析。如果使用直线取向测量网格进行测定，可使用三个主要截面的任意两个面进行三个取向的测量。

（2）面积法

n_平  =（n_横n_纵n_法）^1/3  

n_平 ：每mm² 内的平均晶粒数。

G=3.322lgn_平  -2.9542

（3）截点法

可使用圆测量网格随机地放在三个主检测面上进行。或使用直线段在3个或6个主方向上2个或3个主检测面上进行截点计数。对于等轴形状偏离不太严重（≤3:1形状比）的晶粒度的测量使用圆测量网格在纵向面上进行测量。

晶粒度测量中，测量直线的6种可能取向

截点法晶粒度的计算

G=6.6439lgp₁ -3.288

p₁  =（p_1l ·p_1t ·p_1n）^1/3

p_1l  、p_1t  、p_1n  分别为纵向、横向、法相基本平面上单位长度的截点数。

通过截点数，计算出平均截距，可以确定晶粒伸长率和各向异性系数。

3、晶粒度数值的表示方法

1）通常以晶粒平均直径，平均截距，晶粒平均截面积及晶粒度级别数G来表示。

2）因为晶粒度的各种数值表示都是由初测值n_a（每mm²内的平均晶粒数）或p₁（每mm内的截点数）的对数或倒数的关系求出。所以表示一组试样的晶粒度，不能简单地将各个晶粒度计数值进行平均。

3）若试样中发现晶粒不均匀现象，经全面观察后，如属偶然或个别现象，可不予计算。如较为普遍，则应计算出不同级别晶粒在视场中各占的面积百分比。若晶粒所占的面积百分比不少于视场面积的90%，则只记录次一种晶粒的级别数。否则，应用不同级别数来表示该试样的晶粒度，其中第一个级别数代表占优势的级别数。

4）如需要对混合晶粒度评定时，可将混合各部分的晶粒分别按单峰分布评定平均晶粒度，并测定各部分的晶粒所占的百分比。如8级70%，3级30%。

更多热处理相关知识请登录www.qdfengdong.com查阅或直接联系在线客服，我们将竭诚为您服务！